WIESBADEN (pi) - Systeme zum künstlichen Altern von elektronischen Bauteilen werden, so Caramant, Wiesbaden, für die Qualitätskontrolle von Halbleitern immer wichtiger. Auf der ATE '81 stellte das Unternehmen ein "Burn-in" -System vor, mit dem sowohl statischer als auch dynamischer Burn-in für Halbleiter durchgeführt werden kann.

Durch Aussonderung von typischen Frühausfällen, die unter thermischem oder elektrischem Streß erkannt werden können, lassen sich, so Caramant, frühzeitig Reparaturkosten vermeiden.

Das Wiesbadener Unternehmen liefert zwei Typen von Burn-in-Schränken, die sich nach Caramant-Angaben lediglich durch die Aufnahmekapazität für Burn-in-Platinen unterscheiden. Die CEB-Systeme seien für einen Betrieb bis -55 Grad Celsius und/oder +200 Grad geeignet.

Maßgeschneiderte Systeme für kleine Durchsatzmengen lassen sich,, so die Wiesbadener, zur Großanlage ausbauen.

Informationen: Caramant, Adolfsallee 27/29, 6200 Wiesbaden, Telefon: 0 61 21/30 50 40.