WIEN (apa) - In seinem Eröffnungsreferat der Informationstagung "Mikroelektronik 1985", wies Bauminister Heinrich Übleis darauf hin, wie wichtig die Qualität bei Elektronikchips ist.

Daher werde Ende 1986 das Chip-Testzentrum im Wiener Arsenal in Betrieb genommen. Ab 1986/87 sollen dort jährlich etwa 1,5 Millionen hochintegrierter elektronischer Schaltkreise geprüft werden.

Die Ergebnisse des Testzentrums sollen in Zukunft dafür sorgen, daß Elektronikfirmen die Zuverlässigkeit und damit die Qualität der ihnen angebotenen Produkte erhöhen.

Auf eine verstärkte Kooperation zwischen dem Wissenschafts-, Verkehrs-, Umweltschutz- und Bautenministerium gemeinsam mit der Wirtschaft soll hingewirkt werden.