MÜNCHEN (COMPUTERWOCHE) - Forscher von STMicroelectronics in Frankreich haben eigenen Angaben zufolge eine Halbleitertechnologie entwickelt, in der keine "Soft Errors" infolge von Umgebungsstrahlungen auftreten sollen. Je mehr die Größe der Bauteile schrumpft, desto anfälliger sind sie gegen solche weichen Fehler. Sie sind vor allem bei integrierten statischen RAM-Modulen (Random Access Memory) gefürchtet, die Programmcode oder Steuerungsinformationen enthalten. Um die störungsfreie Verarbeitung der Signale zu ermöglichen, haben die Forscher Kondensatoren integriert. Sie senken das Risiko, dass der Status eines Bits (0 oder 1) durch Strahlungseinflüsse geändert wird.

STMicroelectronics will das Design ab 2004 als Basis für statische RAM-Module verwenden. (lex)