Produkt-Telegramme

01.10.1999

Y2K-Test für Embedded-Systeme

Mit "Delta-T Probe" stellt DDV, Hamburg, eine Online-Jahr-2000-Testsuite für Embedded-Systeme vor. Die Anwendung dient der Prüfung von Herstelleraussagen und kontrolliert die Angemessenheit von Jahr-2000-Zertifikaten. In einem ersten Schritt überprüft die Steuerungssoftware den fachgerechten Anschluß der Kontaktclips und vergleicht die zu prüfenden Mikrochips mit den Informationen einer eigenen Datenbank. Bei der anschließenden Aufzeichnung des Datenflusses des Embedded-Systems werden kritische Datumsverarbeitungen angezeigt.

Twister auf S/390 portiert

Brokat, Stuttgart, hat sein Portfolio an E-Business-Lösungen für Mainframes erweitert. So läßt sich die E-Services-Plattform "Twister" in Zukunft auch auf S/390-Großrechnern von IBM einsetzen. Die Portierung von Twister auf diese Plattform kam auf Wunsch vieler Anwender des Brokat-Systems zustande. Ausschlaggebend war laut Hersteller dabei die hohe Ausfallsicherheit des IBM-Servers. Die ersten Brokat-Kunden planen die Migration von Workstation-basierten Twister-Installationen auf S/390 für das vierte Quartal.

R/3-Daten-Extraktion für SAP BW

Mit "Power Connect für SAP R/3" ergänzt Informatica, München, das "Business Information Warehouse" (BW) von SAP um Zugriffs- und Extraktionsfunktionen. Dadurch stehen jedem Anwendungssystem R/3-Quelldaten zur Verfügung, was laut Hersteller SAP-Anwendern den Aufbau maßgeschneiderter Data-Warehouse-Umgebungen erleichtert. Das neue Produkt soll darüber hinaus einen schnelleren Zugriff auf unternehmenskritische Daten innerhalb der R/3-Umgebung ermöglichen.

Frontends für Essbase 6

Arcplan, Düsseldorf, unterstützt mit seinen Business-Intelligence-Produkten "Insight" und "Dynasight" jetzt auch den "Essbase Olap Server 6" von Hyperion. Bei Essbase handelt es sich um eine Olap-Server-Technik für unternehmensweite Planungs-, Analyse- und Berichtsanwendungen. Die grafischen Benutzeroberflächen der Arcplan-Frontends nutzen die erweiterten Funktionen von Essbase 6 wie die neuen Attribut-Dimensionen und liefern laut Hersteller dadurch schnellere und komplexere Datenanalysen.