MÜNCHEN (COMPUTERWOCHE) - Der Speicherchip-Hersteller Kingston Technology hat nach eigenen Angaben ein Patent auf seinen Burn-in-Tester erhalten, der Early-Life-Fehler in Speichermodulen für Server aufspüren soll. Künftige Versionen des "KT2400 Dynamic Burn-in Tester" könnten auch an weitere Speichermodul-Standards angepasst werden, erklärte das Unternehmen.

Der KT2400 kann mit speziell designten Testplatinen bis zu 500 Module gleichzeitig prüfen. Dieses werden dazu hohen Temperaturen, Drücken und Spannungen ausgesetzt, um innerhalb kurzer Zeit drei Monate Normalbetrieb zu simulieren. Ramon Co, Vice President das weltweite Test-Engineering bei Kingston, erklärte, am häufigsten träten Fehler in Speichermodulen innerhalb der ersten drei Monate (Early Life) auf. Der Tester soll diese aufspüren, damit die fehlerhaften Module bereits vor dem Verkauf ausgesondert werden können. (tc)