AACHEN (pi) - Das vom Systemhaus GEI aus Aachen vertriebene Werkzeug "Tip" zum interaktiven Test von DC-Anwendungen in IMS-Umgebung ist jetzt mit dem Release 3.0 erweitert worden. Im Online-Teil beschleunigen das "X3F-Feature" und eine installationsspezifische Parametrisierung das Testen. Dazu kommt ein neues Benutzer-Interface und eine modifizierte interne Architektur, die es erlaubt, auf neue IMS-Releases oder kundenspezifische Modifikationen flexibel zu reagieren.

Unter den neuen Funktionen im Release 3.0 ist vor allem das X3F-Feature zu sehen. Das X3F-Attribut in Formaten unterdrückt das erneute Übertragen von unveränderten Feldinhalten, weshalb interaktive Testsysteme ein eigenes Handling für diese Daten vorsehen müssen.

Das Batch-Feature hat nach Mitteilung der GEI eine Lücke im Testsystem geschlossen. Es bietet die gleichen Möglichkeiten der Testspezifikation wie Tip-Online und erlaubt außerdem auch, Batch- und BMP-Programme während des Online-Betriebes zu testen.

Die weitere Planung für das Produkt richtet sich im wesentlichen auf zusätzliche Funktionen im Bereich der Testarchivierung und des maschinellen Ergebnisvergleichs. Diese neuen Features sollen nach Angaben des Unternehmers über die Wartungsverträge ohne Aufpreis zur Verfügung gestellt werden.